厚翼科技
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專業DFT/BIST/BISR技術服務!
由設計端開始提升良率,降低成本!

厚翼科技成立於2009年12月,為專業晶片可測性設計 (DFT, Design for Testability) 矽智財(IP, Intellectual Property)開發公司,專精DRAM BIST IP設計,主要服務包含記憶體、邏輯及系統單晶片(SoC, System on Chip)等內建自我測試(BIST, Built-In Self-Test)、內建自我診斷(BISD, Built-In Self-Diagnosis)、內建自我修復(BISR, Built-In Self-Repair)、錯誤更正碼(ECC, Error Correcting Code)電路設計開發,能為IP供應商、IC設計、代工廠、測試等相關廠商,量身訂做最符合效益的晶片 DFT整合解決方案。

 

厚翼研發團隊來自全球首創「可量產之動態記憶體內涵自我測試電路」論文的清大LaRC實驗室,該實驗室鑽研可測性設計逾二十年,相關技術引領業界,有效降低測試成本和提高良率!

 

 

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