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記憶體測試電路開發環境—BRAINS

可配置化的記憶體測試電路開發環境
BRAINS 優點
記憶體測試電路開發環境—BRAINS
記憶體測試電路開發環境—BRAINS

概述

現今產品應用日趨複雜,整合功能愈來愈多。晶片中,對於記憶體的需求也愈來愈重,其所佔晶片面積大多超過百分之五十。因此,記憶體的良率,相對也是影嚮整體晶片良率最大因素之一。著眼於此,記憶體測試解決方案亦成為晶片設計流程中,不可缺少的一環。透過記憶體測試解決方案,能夠將晶片中記憶體出錯的部分篩選出來,藉此降低DPPM。透過BRAINS使用者可輕易地根據實際產品需求,產生相對應的記憶體測試電路。其特有的共享式硬體架構,可提供精簡的電路架構,並縮短測試時間,以降低晶片生產成本,提高產品競爭力。

概述

功能

  • Memory model identify automatically
  • Sharing architecture to minimize area
  • Programmable testing supported
  • Algorithm selection supported
  • At-speed testing supported
  • Diagnosis function supported
  • BIST circuit insertion automatically

特色

  • Faulty memory model for testing
  • Testing Algorithm
    • All march based algorithm
    • MOVI
    • Checkerboard background
    • Programmable algorit
  • Test Interface
    • Basic
    • Mini-basic
    • IEEE 1149.1
    • IEEE 1500