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高效率累加式修復技術—HEART

最具彈性化的累加式修復技術

專利設計的累加式修復技術,搭配BRAINS檢測的錯誤結果,加以準確修復提升整體晶片良率。此解決方案主要針對設計複雜度高的系統晶片以及晶片單價高的產品,利用HEART解決方案來提升良率,減少生產成本的浪費。

高效率累加式修復技術—HEART
高效率累加式修復技術—HEART
高效率累加式修復技術—HEART

概述

HEART解決方案即是基於BRAINS的檢測結果,加以修復。透過修復的技術,可確保晶片功能的正確性,避免因記憶體模組錯誤而導致的誤動作。
HEART解決方案採用累加式修復技術,整合了傳統軟式修復和硬式修復的優點。透過內部儲存單元和外部儲存單元兩者搭配使用,當晶片因長時間使用而出現新錯誤時,HEART解決方案可針對新出現的錯誤點,再加以修復。其中,更可由使用者決定寫入儲存單元的時間點,以延長晶片的使用時間及提升可靠度。

概述

功能

當晶片啟動時,從外部儲存單元讀取相關修復設定檔並加以修復。
透過累加式的檢測,來檢測晶片有無新錯誤發生。若有新錯誤發生,則會記錄該錯誤點,以便爾後可記錄至儲存單元,藉此進行累加式修復。

特色

Repairing Algorithm

  • ESP (Essential Spare Pivoting)
  • Row first
  • Column first

Supported External Storage

  • eFuse
  • OTP

Testing Algorithm

  • All march based algorithm
  • MOVI
  • Checkerboard background

Test Interface

  • Basic
  • Mini-basic
  • IEEE 1149.1
  • IEEE 1500
特色